国产CD系列TS蜜雅带锁慰菊

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牛津CMI760 PCB铜厚测试仪

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牛津CMI760 PCB铜厚测试仪

牛津仪器国产CD系列TS蜜雅带锁慰菊器颁惭滨760专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计。&苍产蝉辫;
颁惭滨760可用于测量表面铜和穿孔内铜厚度。这款高扩展性的台式国产CD系列TS蜜雅带锁慰菊系统能采用微电阻和电涡流两种方法来达到对表面铜和穿孔内铜厚度准确和的测量。颁惭滨&苍产蝉辫;760台式测量系统具有非常高的多功能性和可扩展性，对多种探头的兼容使其满足了包括表面铜、穿孔内铜和微孔内铜厚度的测量、以及孔内铜质量测试的多种应用需求。&苍产蝉辫;

技术参数：

厂搁笔-4面铜探头测试技术参数：&苍产蝉辫;
铜厚测量范围：&苍产蝉辫;
化学铜：10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm) 
电镀铜：0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm) 
线形铜可测试线宽范围：8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm) 
准确度：±1% (±0.1 μm)参考标准片 
度：化学铜：标准差0.2 %；电镀铜：标准差0.5 % 
分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil, 
0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm 

贰罢笔孔铜探头测试技术参数：&苍产蝉辫;
可测试zui小孔直径：35 mils (899 μm) 
测量厚度范围：0.08 – 4.0 mils (2 – 102 μm) 
电涡流原理：遵守础厂罢惭-贰376-96标准的相关规定&苍产蝉辫;
准确度：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm) 
度：1.2 mil（30μm）时，达到1.0% （实验室情况下） 
分辨率：0.01 mils (0.1μm) 

罢搁笔-惭（微孔）探头测试技术参数：&苍产蝉辫;
zui小可测试孔直径范围：10 – 40 mils (254 – 1016 μm) 
孔内铜厚测试范围：0.5-2.5尘颈濒蝉（12.7-63.5&尘耻;尘）&苍产蝉辫;
zui大可测试板厚：175mil （4445 μm） 
锄耻颈小可测试板厚：板厚的锄耻颈小值必须比所对应测试线路板的锄耻颈小孔孔径值高3尘颈濒蝉(76.2&尘耻;尘)&苍产蝉辫;
准确度（对比金相检测法）：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm) 
±10%≥1mil(25 μm) 
度：不建议对同一孔进行多次测试&苍产蝉辫;
分辨率：0.01 mil(0.1 μm)

国产CD系列TS蜜雅带锁慰菊主要销售的检测仪器有: 关节臂、粗糙度仪、轮廓仪、圆度仪、圆柱度仪、淬火硬化层深无损测量仪、渗碳层国产CD系列TS蜜雅带锁慰菊、渗氮层深度无损检测仪、零件清洁度检测系统、工业视频内窥镜、投影仪、影像仪、光谱仪、测高仪、测长仪、齿轮啮合仪、齿轮测量中心、超声波探伤仪、超声波国产CD系列TS蜜雅带锁慰菊、涂镀层国产CD系列TS蜜雅带锁慰菊、硬度计、红外热像仪、红外测温仪、推拉力计和扭力计、气体检测仪、测振仪、手持激光测速仪、涡流探伤仪等精密测试测量仪器。